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1 de Diciembre de 1989
Ingeniería electrónica

Microscopios con sonda de barrido

Estos instrumentos permiten estudiar las características de los cuerpos con un detalle inasequible a los microscopios ordinarios, examinándolos a muy corta distancia con una sonda cuyo espesor puede ser de un solo átomo.

Los objetos cuyas dimensiones son menores que la longitud de onda de la luz visible se han convertido en un campo fundamental de la ciencia y tecnología contemporáneas. Los biólogos estudian las moléculas de las proteínas o el ADN; los especialistas en ciencia de materiales examinan los defectos atómicos de los cristales; los ingenieros microelectrónicos construyen circuitos cuyo espesor es de escasas decenas de átomos. Hasta hace pocos años, todo ese mundo diminuto sólo podía observarse mediante métodos muy complejos y con frecuencia destructivos, tales como la microscopía electrónica y la difracción de rayos X, que alejaban ese estudio fuera del alcance de instrumentos tan sencillos y directos como los microscopios ópticos ordinarios.

Una nueva familia de microscopios abre este dominio a la observación directa. Estos dispositivos permiten cartografiar los cuerpos a escala atómica y molecular, estudiar las propiedades magnéticas y mecánicas de la materia e incluso poner de manifiesto las variaciones de temperatura con una resolución mucho mayor de la que ha sido posible hasta la actualidad, sin necesidad de alterar las muestras o exponerlas a radiaciones perjudiciales de alta energía. Este avance parecía imposible. Al fin y al cabo, hace más de 100 años, el físico y óptico alemán Ernst Abbe describió una limitación fundamental de cualquier microscopio que se base en la capacidad de las lentes para focalizar la luz o cualquier otra radiación: la difracción difumina los detalles de los objetos cuyas dimensiones sean menores que media longitud de onda de la radiación utilizada.

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